电子元器件的检测三
双向晶闸管的极性识别：双向晶闸管有主电极1、主电极2和控制极，如果用万用表R×1k挡测量两个主电极之间的电阻，微波组件，读数应近似无穷大，而控制极与任一个主电极之间的正、反向电阻读数只有几十欧。根据这一特性，微波组件公司，我们很容易通过测量电极之间电阻大小，识别出双向晶闸管的控制极。而当黑表笔接主电极1。红表笔接控制极时所测得的正向电阻总是要比反向电阻小一些，据此我们也很容易通过测量电阻大小来识别主电极1和主电极2。
天线测量的误差
1)有限测试距离所引起的误差。
设待测的是平面天线，接收的来波沿其主波束的轴向。若测试距离大小，由待测天线之不同部位所接受的场不能相同，因此具有平方根律相位差。若待测天线恰位于源天线远场区的边界2D2/λ，其口径边缘与相位中心的场存在22.5度的相位差.若测试距离加倍，在相位差减半。
对于测量中等旁瓣电平的天线，微波组件 生产能力，距离2D2/λ通常已经足够，测出的增益约偏小0.06dB。测试距离缩短会使测量误差迅速增大，旁瓣会与主波束合并成肩台式，甚至合为一体。通常0.25 dB的锥销使测出的增益降低约为0.1 dB，并造成近旁瓣的些许误差。
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