电子元器件十一
光敏电阻的检测;检测时将万用表拨到R×1kΩ挡，微波组件工艺，把光敏电阻的受光面与入射光线保持垂直，于是在万用表上直接测得的电阻就是亮阻。再把光敏电阻置于完全黑暗的场所，这时万用表所测出的电阻就是暗阻。如果亮阻为几千欧至几十干欧，暗阻为几至几十兆欧，微波组件，说明光敏电阻是好的。激光二极管损坏判别：拆下激光二极管，微波组件 生产能力，测量其阻值，正常情况下反向阻值应为无穷大，正向阻值在20kΩ～40kΩ。如果所测的正向阻值已超过50kΩ，说明激光二极管性能已下降；如果其正向阻值已超过90kΩ，ltcc微波组件的应用，说明该管已损坏，不能再使用了。
天线测量由反射形成的误差
直射波受从周围物体反射的干涉，在测试区域形成场的变化，由于该波波程差作为位置的函数而迅速变化，使起伏的长度属于波长的数量级。例如比直射波低20 dB的反射波，可引起-0.92～+0.83 dB的功率误差，具体取决于两种之间的差异；相位测量的误差范围为±5.7°，但若反射波的场比直射波低40dB，则侧出的幅度与相位分别仅有±0.09与±0.6°的误差。
反射在低旁瓣的测量中特别有害。一项很小的反射通过主瓣耦合到待测天线，可以完全掩盖住耦合到旁瓣的直射波。如果相耦合的直射和反射波强度相等，则测出的旁瓣电平会抬高6 dB左右，或者在测得的波瓣图中成为零点。
3)其他误差。
还可能导致天线测量产生误差的因素有：低频时与电抗近场的耦合可能比较显著；测量天线的对准误差；其他干扰信号；测试电缆所引起的误差等。
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